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 目前平板探測器的技術分析

 
(1)非晶硒平板探測器
 
    幾十年前類似的非晶硒探測器已經被用于攝片。過去十年非晶硒也被用于數字化胸片。非晶硒平板探測器是由非晶硒層直接將X光圖像轉變成電信號,平板探測器收集電子信號并讀出圖像。這種探測器通常被稱作“直接”探測器,從非晶硒層直接將X線轉變成電荷再轉變成圖像。在這種裝置兩側添加2500伏特的電壓,這種電荷轉換模式可以減少側面X線散射。在這種轉換過程中為了減少X線散射,非晶硒層必須很厚。但是非晶硒層太厚會導致影響其它部分。
非晶硒的局限性:
•非晶硒在吸收了銳利的X線后會造成X線的漂移。 
•圖像獲得時間長,導致AEC模式無法使用,并限制了其它先進軟件應用。 
•探測器的設計必須在X線捕獲和電荷轉換之間折衷。例如:為了增加X線劑量吸收必須增加非晶硒厚度,這樣就需要改變探測器的電壓來維持電荷水平。而使用厚非晶硒層與設計者希望使用薄非晶硒層來達到快速成像及獲得高亮度圖像的愿望又是相沖突。
 
(2)非晶硅平板探測器
 
數字化非晶硅探測器,使用碘化銫層(或硫氧化釓)和光電二極管/轉換平板,由于采用的是整板設計,解決了拼接板所存在的拼接縫、中心盲區及穩定性等方面的問題。使用硫氧化釓/非晶硅的整板探測器,具有極佳的穩定性,使用環境更加寬松。
 
(3)不同類型的平板探測器,DQE(量子探測效率)不同,圖像對比度和圖像分辨率也就各不相同。
    不同類型的平板探測器由于材料、結構、工藝的不同而造成DQE和空間分辨率的差異。DQE影響了對組織密度差異的分辨能力;而空間分辨率影響了對細微結構的分辨能力。目前還沒有一款DQE和空間分辨率都做得很高的平板探測器,因此需要在兩者間做一個平衡。要根據不同的用途,分析成像的物件性質,選擇適合的平板探測器,同時擁有相配套的射線源系統,才能拍出滿意的圖像。
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