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     7. 程序方法

    7.1 射線束的過濾方法按照各項測試的程序規定。需要注意的是,X射線管頭上可能已安裝了射線束濾光器??赡艿脑?,應該獲取并且列出這些數值。

    7.2 所有各項測量,X射線源到探測器的距離都要大于1000mm (39.3 in.) ,除非預先明確說明。射線束盡可能不受到干擾物的互作用,除非故意要這樣做,但是干擾物不能比輻射源處用了束準直儀的探測器的面積大太多。注意,本程序中所列的曝光時間可以通過延長曝光,或者倍增DDA可能得到的圖象幀的各種方法組合獲得。然而,無論采用哪種,所得信息都要記錄到測試報告中,而且全部要用同樣的DDA積分時間(每幀)進行測試。下述幾章節用到一張圖象,其存儲格式能夠包含全位深度采集的數據,以便以后分析。

     7.3 由于X射線焦點大小的尺寸限制和幾何放大倍率所造成的圖象不清晰度,不得超過按規范E 1742所述的標準射線照相方法得到的圖象的不清晰度值。

    7.4 各項測試的測量參數,都要用附錄 X1中所給的樣本格式記錄在數據表中(輸入)。

    7.5 DDA獲取的所有圖象都要做偏移校正和增益校正,除非另作說明。所有各項測試還要采用制造商的校正算法對壞象素進行校正,但是,壞象素識別測試除外(詳見 7.12 8.7)。

    7.6 對于給定類型的DDA指定要做的各項測試,要求探測器的內部設置值相同,比如增益和模-數轉換等。

    7.7 基本空間分辨率(SRb)的測試程序

    7.7.1 評定基本空間分辨率的測試物是雙線象質儀(見操作規范 E 2002)。將它直接放在探測器上,與探測器排/列形成的夾角。如果DDA有個各向異性的象素,那就要用二幅圖象,一幅是在雙線象質儀與探測器排幾乎平行時獲得,另一幅要與列幾乎平行。除了增益、偏移和壞象素校正之外,不做其它圖象處理。

    7.7.2 施行曝光的距離應大于1 m(40 in.),焦點規格如7.3節規定。

    7.7.3 基本空間分辨率的測量可以根據射線質量。能夠高于160千伏操作的DDA,應當用220kV(無預置濾光)進行測試。其他各種DDA要用90 kV (無預置濾光) 。選擇X射線管毫安值,使得在物體(雙線象質儀)上讀出的灰度值為DDA完全飽和值的80 %65 %。如果采用這兩種能量,未預先濾光不能采集到成功的圖象的話,測試工程師就應該降低射線電流或者加大射線源到DDA的距離,以獲得上面所說的成功的圖象。如果還不行,可將第5.3.2節規定的輻射質量用于90千伏測量,而將第5.3.6節規定的輻射質量用于220kV測量。這二種情況的輻射質量都應該記錄到附錄 X1 提供的樣本數據表(輸入)。

     

    2本測試旨在確定DDA能夠達到的基本空間分辨率,亦即DDA能夠獲得的最好的基本空間分辨率。因此,重要的是顯著降低測量時的量子噪聲。這可能要涉及捕獲多幀圖象,灰度值如上文所列、在第7.7節所列范圍內。

    7.8 效率測量程序。

    7.8.1 這項測量要在射線劑量大于和小于1 mGy的少量數據點上進行。然后從這一系列的測量點計算得到1 mGy時效率。測量過程中得到的這組數據點,還另外提供了有關探測器的線性響應的信息。建議也采用DDA最高響應時的少量數據點來獲得dSNRn最大電平.。

    7.8.2 采用與第7.8.4節所述圖象相同的積分時間采集一幅偏移圖象(無射線)。

    7.8.3 用于本項測量的輻射質量見5.3節規定。

    7.8.4 為了完成效率測量,X射線管的設定值應當按照第5.3節所列,濾光板放在緊靠X射線管的端口處,這樣未經濾光的射線就不能到達DDA。調整射線束電流和/或曝光時間直到電離真空計在DDA的位置上能夠得到某個已知的曝光劑量。劑量率測量應該不受到散射的干擾,因此在放置探測器之前最好先完成本項測量。將劑量率乘以曝光時間(單位:秒,或零點幾秒)得出曝光劑量。為了達到1 mGy的劑量,建議測量所有的數據點(少量小于或者大于1 mGy劑量的數據點),并記錄下在放置探測器之前為獲取這些曝光劑量所需毫安值。

    3 測量曝光劑量用的電離真空計應當按制造商推薦的方法進行校準。

     

    7.8.5 在這些條件下收集了二張圖象。用它們來獲取沒有固定圖案的噪聲,或者通過一幅不同圖象獲取其他可能的反常。

    7.9 可達到的對比靈敏度的測量程序

    7.9.1 本測試將使用第5.2節中規定的由三種不同的材料制成梯形楔塊圖質儀。并且使用5.2節所述厚度全范圍。所有測試中,楔形梯塊到探測器的最小距離為600 mm (24 in.)(當SDD1000 mm (40 in.))。將前置濾光器直接放在射線管前。射線束瞄準梯形楔塊曝光區。在數據表中記錄所用的前置濾光器(輸入)。

    7.9.2 如果探測器面積太小,不能在一張圖象內獲取完整梯形楔塊圖象,可以用有相同設定值的X射線和DDA,獲取兩張或多張圖象,完全覆蓋梯形楔塊。

    7.9.3 本項測試用的射線劑量應按照160kV設置,采用0.5 mm (0.019 in.) 銅濾光器。定好在該光譜范圍下X射線管的電流(毫安),這樣,在為各項測試選擇的積分時間內,用最薄的楔塊DDA也不會飽和。將1 s, 4 s, 16 s, 64 s 最小有效曝光時間獲得的各幀圖象,平均后產生一些圖象。需要的話,制造商可以提供其他曝光時間的數據。

    7.10 指定材料厚度范圍的測量程序

    7.10.1 已經完成了7.9節的測試程序,就沒有必要進行本測量。如果要求本測試與對比靈敏度測試無關,那么就按照7.9節的測試程序。

    7.11 延遲和老化測試程序

    7.11.1 延遲測試程序本測試過程不需做偏移和增益校正。

    7.11.1.1 測量探測器的延遲應當采用一個圖象系列。接通DDA的電源,30分鐘后曝光。開始曝光前應當獲取一幀偏移圖象 (圖象0)(未開射線)。

    7.11.1.2 以恒定的劑量在120kVDDA進行曝光,采用0.5-mm (0.020-in)銅片濾光器和120kV射線束,在80%的飽和灰度下曝光至少30分鐘。緊接著捕獲到圖象群,后面是一幀單幅圖象,總曝光時間4秒鐘。

    7.11.1.3  然后獲取大約70秒的圖象系列,大約5秒后,關閉X射線。

    7.11.2 老化測試程序

    7.11.2.1 120kV測量老化,將16mm銅片濾光器直接放在DDA表面,遮擋一半DDA,將未被遮擋的區域在灰度值為80%飽和度下曝光30分鐘。關閉射線,拿走銅片。同樣120kV﹑但曝光劑量是原來的十分之一的條件下曝光DDA。獲取一幅有效曝光時間30秒的圖象,可能看得出之前用銅片遮擋部分的些許影子。

    7.11.2.2 30分鐘定量照射和30秒曝光之間的時間,不可大于將銅片從射線束取走所需時間。該過程的任何拖延都會改變測量的結果。在1小時, 4小時,24小時后重復該項測量,測量之間不再曝光。

    7.12 壞象素測量程序-辨認壞象素要求使用下文所述的數據。所有測量都使用100 kV0.5 mm (0.020 in.)預置銅片濾光。記錄下根據一組至少3特定型號DDA測量得到壞象素。

    7.12.1 在沒有開啟射線的情況下,獲取總積分時間大約120秒的黑暗圖象系列。存儲該圖象系列以便辨認嘈雜象素。然后將該系列進行平均,獲得單幅偏移圖象。稱之為偏移數據。

    7.12.2 得到總積分時間大約120秒的圖象系列,獲取該圖象系列采用的X射線,應設定到平均灰度為偏移校正后的DDA飽和灰度的50 %。然后將該圖象系列平均后進行偏移校正,獲得單幅圖象。稱之為象素數據1.

    7.12.3 得到總積分時間大約120秒的圖象系列。獲取該圖象系列采用的X射線,設定到平均灰度為偏移校正后的DDA飽和灰度的10%。然后將這些圖象平均后做偏移和增益校正。稱為之象素數據2。

    7.12.4 得到總積分時間大約120秒的圖象系列,獲取該圖象系列采用的X射線,設定到平均灰度為偏移校正后的DDA飽和灰度的80%。然后將這些圖象平均后做偏移和增益校正。稱之為象素數據3。

    7.12.5 余暉/延遲象素—不做增益校正。探測器電源接通后不曝光時間超過30分鐘,在曝光之前獲取一幀偏移圖象。然后,探測器以120 kV恒定劑量曝光,使用0.5-mm銅片濾光器 ( 5.4),灰度值為偏移校正后的飽和灰度值的80%,曝光至少300秒。捕獲到大約70秒的圖象系列。該系列開始后X射線應該關閉5秒鐘。

    7.13 內部散射輻射測量程序-按照7.11節所述方法,把16mm的銅片直接放到DDA上,邊恰好在DDA中間,與射線束垂直,獲取的圖象有一條清晰的邊。DDA應在220kV下用8-mm (0.31-in.)銅片濾光后曝光。對于不適宜該劑量范圍的DDA,應在最高推薦劑量下用3mm8mm的銅片濾光器進行本測量。調整X射線管的射線電流,使得偏移校正后的灰度達到飽和值的80%。獲取一幅有效曝光時間60秒的圖象,焦點規格如7.3節所述。該圖象要做偏移和增益校正。

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